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  • 美國PCB/333B30結構測試ICP加速度傳感器
    美國PCB/333B30結構測試ICP加速度傳感器

    ICP333B系列結(jie)構測(ce)試(shi)ICP加速度傳(chuan)感器及其(qi)附件(jian)都(dou)經過特別設計,用以解決多點(dian)模態與(yu)結(jie)構測(ce)試(shi)應用的(de)(de)需求。傳(chuan)感器具有(you)高輸出性的(de)(de)特點(dian),壓電(dian)陶(tao)瓷在(zai)測(ce)量低(di)振幅振動有(you)較(jiao)強的(de)(de)輸出信(xin)號。通(tong)過采用超輕材料殼體(ti)來降(jiang)低(di)附加質量的(de)(de)影響。 在(zai)這系列中的(de)(de)每個元件(jian)都(dou)包括TEDS功能(neng)選項,內置數(shu)字(zi)電(dian)子數(shu)據表(TEDS)的(de)(de)是一種混合型(模擬/數(shu)字(zi))傳(chuan)感器

    更新時間:2023-10-07型號:美國PCB/333B30
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